Rozwiązania i Komponenty dla AutomatykiSolutions and Components for Automation

Dziękujemy za spotkanie podczas targów Warsaw Industry Week 2018

13.11.2018

Dziękujemy za spotkanie podczas targów Warsaw Industry Week 2018

W dniach 6-8 listopada firma WObit po raz drugi uczestniczyła w dynamicznie rozwijających się targach Warsaw Industry Week, które odbyły się w Ptak Warsaw Expo.

Na naszym stoisku zaprezentowaliśmy m.in. roboty mobilne MOBOT® AGVCubeRunner oraz eRunner. Większy z robotów prezentował możliwości automatycznego pobierania i odkładania detali, w tym przypadku paczki z użyciem systemu grzebieniowego. Do prowadzenia robotów w przestrzeni stoiska został wykorzystany system nawigacji laserowej LMS opracowany przez WObit oraz metoda kolorowej linii.

Mieliśmy przyjemność gościć na stoisku WObit zespół PWR Racing Team z Politechniki Wrocławskiej z ich najnowszym bolidem RT09. Odwiedzające nas osoby mogły zobaczyć na przykładzie bolidu oraz na prezentowanych obok demach zastosowanie precyzyjnych czujników do pomiaru rozkładu sił i nacisku firmy Tekscan, a także skanera laserowego i czujnika koloru firmy Micro-Epsilon.

Sporym zainteresowaniem cieszyły się również demonstrowane na stoiskuurządzenia pomiarowe, sterowniki oraz enkodery produkowane przez firmę WObit.

Targom WIW 2018 towarzyszyło wiele ciekawych wydarzeń, takich jak konferencja Instrumenty Przemysłu 4.0., która pokazywała kierunki rozwoju tej idei w Polsce i na świecie.

Dziękujemy, że byliście tam Państwo z nami.

×

Przeczytaj także

Nowe czujniki konfokalne Micro-Epsilon do precyzyjnych pomiarów odległości i grubości
Nowe czujniki konfokalne Micro-Epsilon do precyzyjnych pomiarów odległości i grubości

W ofercie WObit dostępne są dwa nowe innowacyjne czujniki konfokalne Micro-Epsilon do pomiarów na zakrzywionych powierzchniach i w ciasnych przestrzeniach montażowych z najwyższą precyzją.

Zobacz więcej »
Precyzyjny mikrometr o dużym zakresie pomiarowym
Precyzyjny mikrometr o dużym zakresie pomiarowym

Poznaj nowy, precyzyjny mikrometr przeznaczony do statycznych i dynamicznych pomiarów średnicy, odstępu, wysokości czy położenia.

Zobacz więcej »